продукция
криогенные
приборы
сверхпроводящие
магниты и оборудование
криогенные приборы
замкнутого цикла
калиброванные
датчики температуры
специализированный
компактный томограф
азотные
ожижители
жидкий азот
и гелий
измерение магнитного
поля (SENIS)
 
вакансии
 
« < Апрель 2024 > »
Пн Вт Ср Чт Пт Сб Вс
1 2 3 4 5 6 7
8 9 10 11 12 13 14
15 16 17 18 19 20 21
22 23 24 25 26 27 28
29 30 1 2 3 4 5
CryoScan2200 Печать
  • Сканирующий зондовый микроскоп в диапазоне температур 1,8 – 350 K
Образец в потоке газообразного гелия или азота, или в вакууме

Микроскоп предназначен для наблюдения морфологии поверхности и локальных свойств образцов с субнанометровым пространственным разрешением в широком интервале температур.

Параметры зондового микроскопа

Система прецизионного сканирования

Сканер FSS-3:

Размер области сканирования – до 3 мкм.

Минимальный размер шага – 0,01 нм.

Максимальная скорость сканирования – 30 Гц.

Типичный температурный дрейф – не более 0,1 нм/с.

Сканер FSS-15:

Размер области сканирования – до 15 мкм.

Минимальный размер шага – 0,03 нм.

Максимальная скорость сканирования – 30 Гц.

Типичный температурный дрейф – не более 0,1 нм/с.

Расположение образца – горизонтальное.

Размеры образца – до 10 мм в диаметре и до 5 мм по высоте.

Сближение образца с зондом – строго поступательное в вертикальном направлении (без боковых смещений).

Начальное сближение с помощью шагового двигателя на расстояние до 4 мм.

Величина шага начального сближения – 30 нм.

Головка сканирующего туннельного микроскопа

Режимы туннельной микроскопии: измерения в режимах постоянной высоты, постоянного туннельного тока, туннельной спектроскопии.

Измерение зависимостей I(U), I(Z) в выбранных точках.

Разрешение – атомное, на высокоориентированном пиролитическом графите.

Диапазон регистрации туннельного тока – 50 пА - 50 нА.

Диапазон изменения напряжения ±10 В.

Головка магнитно-силового микроскопа

Режимы двухпроходной методики для контактной и резонансной мод.

Чувствительность по силе – до 10-11 Н.

Пространственное разрешение одиночных магнитных доменов.

Работа с кантилеверами с различными магнитными покрытиями.

Одновременная запись данных о топографии поверхности и магнитном профиле.

Головка атомно-силового микроскопа

Режим атомно-силовой микроскопии.

Измерения в режимах постоянной высоты, постоянной силы, сил трения (разрешение молекулярное на слюде).

Измерения в модуляционных режимах.

Электронная система сбора данных

12 каналов ЦАП (16 бит, 10 мкс), два восьмиканальных АЦП (16 бит, 10 мкс). Цифровая обратная связь на сигнальном процессоре. Встроенный синтезатор частоты (0,01 Гц – 10 МГц).

Программное обеспечение

Программное обеспечение управлением микроскопа (программа-мастер) и обработки изображений (программа-клиент) написано для операционной системы Windows XP. Программа-клиент имеет множество различных функций, предназначенных для обработки и анализа изображений зондовой микроскопии.

Основные параметры криогенной системы

Интервал температур, K

1,8 – 350

Диаметр шахты криостата, мм

40

Объем гелиевого резервуара, л

2,2 (3,5)

Объем азотного резервуара, л

2,5 (4)

Точность поддержания температуры в интервале 4,2 – 50 K, K*

±0,05

Точность поддержания температуры в интервале 50 – 300 K, K

±0,1

Время захолаживания (до 4,2 K), мин

30

Расход гелия на захолаживание до 4,2, л

1,4

Время замены образца, мин

5

Потребление гелия при 4,2 K, л/ч

< 0,1 (0,12)

Время работы системы при 1,8 K, ч

Около 6

Размеры криостата, мм

 

Диаметр

200

Высота

750

Вес системы, кг

12

* – Для получения оптимальных параметров настоятельно рекомендуется терморегулятор серии tSTAT310x.

 
Почтовый адрес: 142432 Россия, Московская область, г. Черноголовка, ул. Институтская, д. 2, РТИ;
Телефон: 8-800-100-29-70 (звонок по России бесплатный)